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自动测试设备
Maxim Integrated
自动测试设备(ATE)是指用于对产品进行装配线测试的所有设备,通常指制造过程中用于测试集成电路和印刷电路板的设备,可能是小型PC驱动固定用途测试仪,也可能是几百万美元的大型可编程机械设备。
详情介绍
方案
了解我们的ATE方案,查找针对ATE设备的推荐产品。
相关型号
相关型号
制造商
描述
MAX9979
Maxim Integrated
完全集成、高性能、双通道引脚电子IC在单芯片内集成了多项自动测试设备(ATE)功能,包括驱动器/比较器/负载(DCL)、参数测量单元(PMU)和内部(16位)电平设置数/模转换器(DAC)。 完全集成、高性能、双通道引脚电子IC在单芯片内集成了多项自动测试设备(ATE)功能,包括驱动器/比较器/负载(DCL)、参数测量单元(PMU)和内部(16位)电平设置数/模转换器(DAC)。
MAX19005
Maxim Integrated
四通道、超低功耗、引脚电子IC包括两级引脚驱动器、窗比较器、无源负载,以及连接每个通道的加载-感应开尔文开关参数测量单元(PMU)。 四通道、超低功耗、引脚电子IC包括两级引脚驱动器、窗比较器、无源负载,以及连接每个通道的加载-感应开尔文开关参数测量单元(PMU)。
MAX9967
Maxim Integrated
双通道、低功耗、高速、引脚电子驱动器/比较器/负载(DCL) IC的每个通道含一个三电平引脚驱动器、一个双路比较器、可调箝位电路以及一个有源负载。 双通道、低功耗、高速、引脚电子驱动器/比较器/负载(DCL) IC的每个通道含一个三电平引脚驱动器、一个双路比较器、可调箝位电路以及一个有源负载。