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应用与设计
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产业基础设施关联
功率循环测试设备
Hitachi
本设备令IGBT/IPM (Intelligent power transistor) /DIODE消耗规定的电量,并在规定时间内间歇式供电,籍此评估样品的可靠性。
详情介绍
本设备令IGBT/IPM (Intelligent power transistor) /DIODE消耗规定的电量,并在规定时间内间歇式供电,籍此评估样品的可靠性。
同时也可测量热阻。相关数据存放于HOST PC中。
亦兼备IPM、DIODE的测试。
相关型号
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制造商
描述
电源模块静态特性测量设备
Hitachi
电源模块动态特性测量设备
Hitachi
电源模块瞬态热电阻测量设备
Hitachi